●產(chǎn)品特色
1.簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
2.電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案
3.30 ms超高速測(cè)試速度
4.等效Rdc可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試，量測(cè)到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可內(nèi)建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí)
，*高升級(jí)到120MHz
9.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)
11.具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)
準(zhǔn)確快速的進(jìn)行元件測(cè)試,±0.05%基本**度。
精準(zhǔn)和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師，電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測(cè)試人員，及生產(chǎn)線的測(cè)試人員。
工程師需要在高頻率的狀況下以極高的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測(cè)試工具。
●測(cè)試參數(shù)
電容(C),電感(L),電阻(R),電導(dǎo)(G),電納(B),電抗(X),損耗因數(shù)(D),品質(zhì)因數(shù)(Q),阻抗(Z),導(dǎo)納(Y),相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ??相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗）
●高精度量測(cè)
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。
●元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測(cè)。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時(shí)在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。
單測(cè)某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。
●可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件?？勺兤珘褐绷髟纯商峁┻_(dá)100mA的電流.
●外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.
●多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī),這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無(wú)法衡量的價(jià)值.本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中,提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
●資料儲(chǔ)存和提取
所有的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲(chǔ)存.
●分類處理介面
Bin Handler為可選設(shè)制,通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號(hào).
●印表機(jī)輸出
測(cè)試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
●待測(cè)元件連接
可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要.
●充電電容保護(hù)
高精密的測(cè)試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.
●綜合,**的高頻測(cè)試
“綜合,**的高頻測(cè)試”使該系列產(chǎn)品是高要求測(cè)試的優(yōu)良選擇.
